Thiết bị kiểm tra lỗi ngoại quan điện thoại di động NANO (NANO-MVI-1000) là hệ thống nhận dạng trực quan máy chính xác tích hợp các công nghệ quang học, cơ khí, điện, tự động hóa và các công nghệ khác. Dựa trên đặc điểm của hình dạng điện thoại di động, sản phẩm này sử dụng tính năng tích hợp cao

Hệ thống hình ảnh quang học độc đáo, thiết bị truyền dẫn chính xác và cấu trúc hệ thống mô-đun có thể kiểm tra sự xuất hiện của các nhãn hiệu và mẫu điện thoại di động khác nhau, đồng thời hỗ trợ kiểm tra quang học tự động trực tuyến và ngoại tuyến.

Cấu hình thiết bị

1. Phần mềm kiểm tra lỗi ngoại quan do Nayan phát triển độc lập

2. 1 camera công nghiệp độ phân giải cao (có thể chọn 2-4 camera phụ theo nhu cầu thực tế)

3. Ống kính công nghiệp độ phân giải cao, nguồn sáng LED độ sáng cao, độ đồng đều cao

4. Cấu trúc cơ khí và bộ phận truyền động có độ chính xác cao, độ ổn định cao

Tên thiết bị: Thiết bị kiểm tra độ phẳng bề mặt của điện thoại di động

Mô tả chức năng: Thiết bị này là thiết bị phát hiện khuyết điểm bề mặt 3D hiệu suất cao cho kính điện thoại di động và các sản phẩm khác. Nó có thể phát hiện các khuyết điểm về ngoại hình, độ phẳng và đường viền, sự khác biệt về kích thước và chiều cao của mặt kính vỏ điện thoại di động, khung giữa, nắp pin, logo, máy ảnh và các sản phẩm khác. Công nghệ cốt lõi là cảm biến quang phổ nhập khẩu, kết hợp với hệ thống phần mềm chuyên nghiệp tự phát triển, có thể phát hiện các khuyết điểm trên bề mặt (ngoại hình) và bên trong vỏ điện thoại di động, các bộ phận bằng kính hoặc kim loại. Đây là một thiết bị kiểm tra bề ngoài toàn diện và mạnh mẽ được phát triển đặc biệt cho các khiếm điểm về bề ngoài của các sản phẩm dòng 3C như điện thoại di động.

Đặc trưng

Thiết bị này được tích hợp cảm biến đồng tiêu quang phổ 3D nhập khẩu tiên tiến và tích hợp camera quét tia laser và camera CCD, có thể phát hiện hình dáng bề mặt và thậm chí cả các khuyết thiếu bên trong của vỏ điện thoại di động, các bộ phận bằng kính hoặc kim loại và ánh sáng phản chiếu cao hoặc nhiều màu sắc khác Bao gồm: độ phẳng, đường viền, chênh lệch độ cao, chênh lệch màu sắc, bụi bẩn, vết trầy xước, các hạt bụi lớn hơn, v.v. Tỷ lệ phát hiện cao hơn so với thiết bị quét dòng laser thông thường. Sự phát triển và ứng dụng công nghệ tiêu điểm quang phổ lõi là công nghệ kiểm tra bề ngoài hiệu quả cao đầu tiên ở Trung Quốc. Nó giải quyết hoàn toàn vấn đề rằng việc kiểm tra bề ngoài của camera quét thông thường  nói chung dễ bị ảnh hưởng bởi các yếu tố như sự phản xạ của chính vật liệu, ánh sáng nhiều màu sắc , nguồn sáng xung quanh, bụi, v.v. Đây là giải pháp kỹ thuật tốt cho các dự án kiểm tra hình thức 3D mà thiết bị kiểm tra hình thức thông thường không thể hoàn thành tốt, cũng như khó khăn trong việc kiểm tra do sự mỏi tay và mắt của con người đối với hình thức sản phẩm và không có khả năng phân biệt một số vết xước nhỏ. Nó có thể tiết kiệm hơn 12 người về nhân lực, có tỷ lệ phát hiện cao và hiệu suất ổn định và đáng tin cậy.